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  • SM-100S / SM-100P大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪
    SM-100S / SM-100P大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪

    大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

    更新时间:2026-06-10
  • SM-100S / SM-100P大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪
    SM-100S / SM-100P大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪

    大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

    更新时间:2026-06-10
  • batway必威

    Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪SM-100S Standard,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

    更新时间:2026-06-10
  • Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪
    Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪

    Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

    更新时间:2026-06-10
  • 331² 系列 / 331-2-B英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪
    331² 系列 / 331-2-B英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪

    英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪 331² 系列 / 331-2-B,用于建筑结构维护前的检查,防止钻孔时损坏钢筋、管道或预应力筋,避免结构损伤。

    更新时间:2026-06-25
  • F10-AR-UV美国filmetrics 薄膜测量仪 光学膜厚仪
    F10-AR-UV美国filmetrics 薄膜测量仪 光学膜厚仪

    美国filmetrics 薄膜测量仪 光学膜厚仪美国filmetrics 薄膜测量仪F10-AR-UV 轻松且经济地测量减反射涂层和硬质涂层 F10-AR 是首的款专为简单、经济实惠的眼科抗反射 (AR) 涂层测量而设计的仪器。 AR 涂层测量仪器的成本只是当今使用的大多数仪器的一小部分,它包含多项专有的优良技术,使生产线操作员只需经过几分钟的培训,即可在几秒钟内获得结论性的读数。

    更新时间:2026-06-24
  • F20美国filmetrics 膜厚测量仪
    F20美国filmetrics 膜厚测量仪

    美国filmetrics 膜厚测量仪F20通用薄膜厚度测量仪器 F20 是通用薄膜厚度测量仪器,在全球数千种应用中得到使用。厚度和折射率可以在不到一秒的时间内测量出来。与我们所有的厚度测量仪器一样,F20 连接到 Windows® 计算机的 USB 端口并在几分钟内完成设置。

    更新时间:2026-06-24
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