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支持精细去毛刺和刀痕去除Sirius装置可实现窄槽和内径区域的精细去毛刺并改善表面粗糙度，是一种干式喷射抛光工艺，利用压缩空气将含有磨粒的介质高速喷射到具有细颗...
特征内置采样系统，非常适合点测量使用内置传感器进行流量监控无需外部设备-60至+20℃dp露点测量聚合物传感器具有优异的响应速度主要用途干燥空气点管理N2、Ar等各种气体的测量工业炉现场管理SF6气体中的水分测量观点取样系统这是内置烧结过滤...
特征国内开发、国内制造、国内校准获得日本国内防爆（TIIS）认证。-100至+20°Cdp露点测量范围精度±2℃dp高响应速度有竞争力的定价体系可在0区使用完善的支持体系可追溯至国家标准主要用途石化过程可燃气体、氮气、氢气、甲...
特征日本开发、日本制造、日本国内校准-100至+20℃dp露点测量范围精度±2℃dp高响应速度有竞争力的定价体系交货快捷完善的支持体系可追溯至国家标准主要用途手套箱中的露点控制干燥机露点检查热处理炉内气氛控制洁净室和干燥室的露...
产品特点/功能手持式方块电阻测量仪，方便携带和测量可与两种类型探头（无损型和接触型）互换使用的手持式方块电阻测量装置。只需放置/应用探头即可自动测量电池连续工作时间：24小时（*使用电池时）显示数据数：最多100条（*从最新数据开始显示）保...
产品特点及功能只需触摸手持式探头即可测量电阻在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换通过JOG旋钮进行简单的测量条件设置可更换连接器连接的电阻测量探头以支持宽范围的电阻（电阻探头：最多可使用2+PN确定探头）测量对象半导体及太阳能电池材料（硅...
产品特点/功能只需将样品插入探头之间即可测量的简单测量仪器在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换通过JOG旋钮进行简单的测量条件设置测量目标半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等...
白度是描述物体表面反射光线中白色成分相对比例的指标，广泛应用于各个行业中。白度分光光度计是一种常用的仪器设备，用于测量和评估物体的白度。本文将介绍白度光度计在多个行业中的广泛应用，展示其在不同领域中的重要性和作用。1、纺织工业：白度分光光度...
产品特点/功能测量测试仪（RT-70V）和测量台的组合使用JOG旋钮轻松操作・厚度、温度、PN输入（RT-70V测试仪）自检功能、自动测量范围切换、4种测量模式具有厚度和温度校正功能（适用于硅）测量规格测量目标半导体及太阳能电池材料（硅、多...
产品特点/功能Napson的4探头测量系统采用盒式（*部分为Jandel原创类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小型模块类型。(1)墨盒类型（Napson原装）[第1张产品图片](2)Jandel原装类型[第2张产品图片]Ja...
作用控制光的扩散并实现更高分辨率的视觉检查的模型。・符合日本光学玻璃工业协会标准・检查目的的光学系统・超过15年的镜头和玻璃检查经验・可检查最大20微米划痕的缺陷。中心照度（1000mm距离）250勒克斯检查方法直视型投影式反射投影模型OP...
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